论文名称：Experimental Demonstration of High-order In-memory Computing based on IGZO Charge Trapping RAM Array for Polynomial Regression Acceleration 发表刊物：2022 International Electron Devices Meeting (IEDM) 刊物所在地：San Francisco 论文类型：文章 学科门类：工学 一级学科：电子科学与技术* 页面范围：2.3.1-2.3.4 是否译文：否 收录刊物：EI
