北京邮电大学主页平台管理系统周怡琳--中文主页-- Yilin Zhou*, Ying Li, Yirun Zhao, Wenrui Lu, Electrochemical Migration of Immersion Silver Plated Printed Circuit Boards Contaminated by Dust Solution, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, March 2021, 21(1): 117-128.

周怡琳

电子邮箱：ylzhou@bupt.edu.cn
所在单位：智能工程与自动化学院
学历：研究生毕业
办公地点：校本部（西土城校区）创新楼106室
性别：女
联系方式：ylzhou@bupt.edu.cn
学位：博士学位
职称：教授
在职信息：在职
毕业院校：北京邮电大学
博士生导师
硕士生导师
学科：电子信息. 控制科学与工程
所属院系：智能工程与自动化学院

2022当选：北京邮电大学教学名师

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Yilin Zhou*, Ying Li, Yirun Zhao, Wenrui Lu, Electrochemical Migration of Immersion Silver Plated Printed Circuit Boards Contaminated by Dust Solution, IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, March 2021, 21(1): 117-128.

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是否译文：否

上一条：Xueli Jia, Xiaohui Liu, YilinZhou*，Performance Degradation and Life Prediction of Proton Exchange Membrane Fuel Cell，2022 Prognostics and Health Management Conference，London, United Kingdom, May 27-29, 2022，Best Paper Award.

下一条：Yilin Zhou*, Yirun Zhao, Lu Yang, Ying Li, Wenrui Lu, Data-driven Life Modeling of Electrochemical Migration on Printed Circuit Boards under Soluble Salt Contamination, IEEE Access, 2020, 8:182580-182590.