北京邮电大学主页平台管理系统周怡琳--中文主页-- 周怡琳，杨璐，鲁文睿,尘土颗粒影响下电路板电化学迁移失效寿命建模探索, 2020, 43(3): 11-18，31。

周怡琳

电子邮箱：ylzhou@bupt.edu.cn
所在单位：智能工程与自动化学院
学历：研究生毕业
办公地点：校本部（西土城校区）创新楼106室
性别：女
联系方式：ylzhou@bupt.edu.cn
学位：博士学位
职称：教授
在职信息：在职
毕业院校：北京邮电大学
博士生导师
硕士生导师
学科：电子信息. 控制科学与工程
所属院系：智能工程与自动化学院

2022当选：北京邮电大学教学名师

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周怡琳，杨璐，鲁文睿,尘土颗粒影响下电路板电化学迁移失效寿命建模探索, 2020, 43(3): 11-18，31。

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是否译文：否

上一条：Yilin Zhou*, Ying Li, Yanyu Chen, Insulation Failure Mechanism of Immersion Silver Finished Printed Circuit Board under NaCl Solution, Journal of Electronic Materials, 2020, 49(3): 2066-2075.

下一条：Yilin Zhou*, Ying Li, Yanyu Chen, Meng Zhu, Life Model of the Electrochemical Migration Failure of Printed Circuit Boards under NaCl Solution, IEEE Transactions on Device Materials Reliability, 2019, 19(4): 622-629.